利用扩频技术辐射整改实际案例

2018-04-11 19:03

摘要
某一客户在广东省医疗器械质量监督检验所做医疗器械认证,需要满足YY0505 2012的测试标准要求。而测试RE辐射测试时超标不满足标准要求。从而需对实际超标的CLK信号进行EMI整改处理,理论结合实际分析对于此类CLK时钟窄带信号,可以利用WayCircuit推荐的高效率扩频技术方案进行解决。

关键词
YY0505 2012、辐射整改、窄带

1、EUT描述与受试设备(EUT)问题
EUT主要由高速ARM处理器控制板、以及DSP数据处理板、各类数据转换与接口、DC to DC、AC to DC等电路及模块组成。

不合格测试数据
V-original test data
 

H-original test data
 

1.1,医疗器械对于B级产品标准要求
YY0505-2012测试中,辐射发射要求对于B类产品在,10m暗室限值在30MHz~230MHz 频段不超过30dBuV/m以及230MHz~1GHz频段不超过37dBuV/m,3m暗室限值在30MHz~230MHz 频段不超过40dBuV/m以及230MHz~1GHz频段不超过47dBuV/m。

2、干扰分析与排查
2.1,从测试数据频谱包络曲线可知,主要为一根根很尖、频段非常窄的呈均匀分布的一个频段的曲线超出标准限值。
        分析:这点可以得知主要是由于芯片的工作的主频时钟、或者晶振之类有意发射频率的谐波发射导致。

2.2,同样可以看到在垂直极化方向的V-original test data,在30MHz~100MHz里面有一小段的宽带信号在尖刺包覆的底噪。
        分析:这点可以得知最大可能是电源部分的DC to DC、AC to DC等PWM调制的噪声信号。

2.3,从电路原理以及结构分析,刚刚好符合产品内部的各类时钟频率特征。所以,进一步判断对时钟处理部分进行添加EMI整改方案。

3、整改方案
添加EMI扩频技术方案
 

添加EMI扩频技术方案
 

4、添加扩频技术方案以及其它电路简要电路调试后测试数据
V-after add EMI SSC solution test data.png
 

H-after add EMI SSC solution test data.png